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?電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB/T 5170包含以下部分：

——GB/T 5170.1－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

——GB/T 5170.2－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.5－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.8－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.9－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.10－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.11－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.13－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動臺

——GB/T 5170.14－1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗(yàn)用電動振動臺

——GB/T 5170.15－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗(yàn)用液壓振動臺

——GB/T 5170.16－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)

——GB/T 5170.17－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.18－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.19－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.20－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備本部分是GB/T 5170的第5部分。

本部分代替GB/T 5170.5－1996。與GB/T 5170.5－1996相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：

——標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備”；

——所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；

——增加了“術(shù)語和定義”一章；

——增加了“相對濕度波動度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“相對濕度均勻度” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“每 5min 溫度平均變化速率” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“溫度指示誤差” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“相對濕度指示誤差” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“溫度過沖量” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“相對濕度過沖量” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“溫度過沖恢復(fù)時間” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“相對濕度過沖恢復(fù)時間” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“噪聲” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)和濕度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2）的要求；

——增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章；

——測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；

——增加了附錄 A “檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”；

——增加了附錄 B “干濕表法測量相對濕度”。附錄A和附錄B為規(guī)范性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 8)提出并歸口。本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。

本部分主要起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況：

——GB/T 5170.5-1985，GB/T 5170.6-1985，GB/T 5170.7-1985，GB/T 5170.5-1996。