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GJB 4.11-83是關(guān)于《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 鹽霧試驗》的方法。 

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了艦船電子設(shè)備的元、器件或零部件的鹽霧試驗。它是制訂艦船電子設(shè)備總技術(shù)條件或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)等技術(shù)文件相應(yīng)部分的基礎(chǔ)和選用依據(jù)。

1試驗?zāi)康?/h3>

確定電子元、器件或零部件抗鹽霧腐蝕的能力。主要用以評定金屬保護層的質(zhì)量及其均勻性，特別適用于對類似保護層進行比較。

2對鹽霧試驗箱的要求

2.1 箱（室）所用材料應(yīng)有抗鹽霧腐蝕的能力，不允許因材料腐蝕而影響試驗效果；

2.2 箱（室）應(yīng)能夠調(diào)節(jié)到試驗需要的各種條件；

2.3 箱（室）應(yīng)有足夠的容積，條件應(yīng)均勻穩(wěn)定，不因放置試驗樣品而變化。試驗參數(shù)要易于從箱（室）外控制。

2.4試驗時，鹽霧不允許直接噴射到試驗樣品上；

2.5 箱（室）頂、四壁或其他部分所凝結(jié)的水不允許低落在試驗樣品上；

2.6箱（室）應(yīng)設(shè)有觀察窗及照明裝置，以便能觀察箱（室）內(nèi)試驗樣品及溫度、沉降率等情況。